不管是導(dǎo)熱硅膠片生產(chǎn)廠家的工作人員還是客戶，導(dǎo)熱硅膠片這種產(chǎn)品大家都認(rèn)識(shí)它，導(dǎo)熱硅膠片的規(guī)格參數(shù)也能略知一二，但對(duì)于導(dǎo)熱硅膠片規(guī)格參數(shù)是如何測試出來的？相信沒有幾個(gè)人能完全回答出來，所以小編覺得有必要在這給大家科普一下這個(gè)導(dǎo)熱硅膠墊片物性測試標(biāo)準(zhǔn)知識(shí)點(diǎn)，小伙伴們快快來圍觀吧！

為什么要使用導(dǎo)熱硅膠墊片？其主要原因是要提高發(fā)熱產(chǎn)品的散熱效率，減少高溫升帶來的影響。

1.壽命降低：發(fā)熱產(chǎn)品長期使用不重視散熱問題會(huì)使產(chǎn)品內(nèi)部件溫度持續(xù)上升從而使產(chǎn)品壽命降低，溫升50攝氏度的壽命只有溫升25攝氏度的一半；

2.可靠性降低：每上升2攝氏度，產(chǎn)品使用的可靠度下降10%；

3.處理速度降低，訊號(hào)延遲；

4.閑置的功率耗散增加。

因此，用戶在選購導(dǎo)熱硅膠片是否合格的時(shí)候，以下幾個(gè)非常重要的規(guī)格參數(shù)是客戶選購時(shí)不容忽略的：導(dǎo)熱系數(shù)、熱阻、厚度、硬度、抗拉強(qiáng)度、撕裂強(qiáng)度、擊穿電壓、介電常數(shù)、體積電阻率等物性；下面小編就一個(gè)個(gè)詳細(xì)給大家講解下這些規(guī)格參數(shù)是使用什么儀器、什么標(biāo)準(zhǔn)、什么方法及如何測試出來的。

導(dǎo)熱硅膠片導(dǎo)熱系數(shù)測試方法

導(dǎo)熱系數(shù)：是指在穩(wěn)定傳熱條件下，1mm厚的導(dǎo)熱硅膠片，兩側(cè)表面的溫差為1℃,在1秒內(nèi)，通過1平方米面積傳遞的熱量，用λ表示，單位為W/mk，導(dǎo)熱系數(shù)和質(zhì)量一樣，是材料本身性質(zhì)，不受外界因素影響。

表觀導(dǎo)熱系數(shù)：此數(shù)值不同于導(dǎo)熱系數(shù)，因?yàn)楸碛^導(dǎo)熱系數(shù)還包括測量時(shí)的接觸熱阻。

導(dǎo)熱硅膠片導(dǎo)熱系數(shù)測試方法（1）

測試儀器：導(dǎo)熱系數(shù)測試儀

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D5470

真空狀態(tài)下測試可有效去除空氣對(duì)測試的影響。測試樣品的標(biāo)準(zhǔn)厚度及壓力都是測試需注意的問題。

導(dǎo)熱硅膠片導(dǎo)熱系數(shù)測試方法（2）

測試儀器：HOT DISK導(dǎo)熱系數(shù)測試儀

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：TPS

導(dǎo)熱硅膠片熱阻測試方法

測試儀器：材料熱阻測試儀

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D5470

此標(biāo)準(zhǔn)可模擬結(jié)構(gòu)件在導(dǎo)熱材料上施加壓力進(jìn)行測試。通過加附在導(dǎo)熱材料上下面的探針（六根）監(jiān)測溫度傳導(dǎo)的變化，再配合電腦計(jì)算，從而得出熱阻。

導(dǎo)熱硅膠片厚度的測量方法

測量儀器：測厚尺、卡尺

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D374

由于產(chǎn)品本身具有柔軟性，故厚度測試過程人為操作因素到關(guān)鍵作用，盡量由卡尺操作熟練的檢驗(yàn)工人進(jìn)行檢驗(yàn)，以接觸到產(chǎn)品為準(zhǔn)，用力過大會(huì)造成產(chǎn)品壓縮，故在此提醒熱設(shè)計(jì)工作人員：作設(shè)計(jì)時(shí)導(dǎo)熱材料的選用應(yīng)該比結(jié)構(gòu)件空隙的尺寸至少放大20%~30%。

導(dǎo)熱硅膠片硬度的測量方法

測試儀器：邵氏硬度計(jì)

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D2240

目前常用的邵氏硬度計(jì)為分三種：shore00、shoreA、shoreC。不同企業(yè)采用的標(biāo)準(zhǔn)均不一樣，由于導(dǎo)熱硅膠片的柔軟性，推薦使用C型硬度。注意試樣的厚度要求最少有6mm。

導(dǎo)熱硅膠片抗拉強(qiáng)度的測量方法

測試儀器：萬能材料試驗(yàn)機(jī)

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D412

抗拉強(qiáng)度的測試與撕裂較類似，同樣采用萬能材料試驗(yàn)機(jī)測試，不同在于樣品的形狀有特殊要求。電腦會(huì)指揮試驗(yàn)機(jī)把材料拉斷為止，從而計(jì)算抗拉強(qiáng)度。

導(dǎo)熱硅膠片撕裂強(qiáng)度的測量方法

測試儀器：萬能材料試驗(yàn)機(jī)

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D412

導(dǎo)熱硅膠片須按要求形成標(biāo)準(zhǔn)樣品（一般采用刀模沖切），萬能材料試驗(yàn)機(jī)是通過數(shù)據(jù)線連接到電腦，根據(jù)行程及力量的變化，電腦會(huì)計(jì)算出產(chǎn)品撕裂強(qiáng)度并以數(shù)值的形式呈現(xiàn)。

導(dǎo)熱硅膠片擊穿電壓測量方法

測試儀器：耐壓測試儀

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D149

導(dǎo)熱硅膠片介電常數(shù)的測試方法

介電常數(shù)：又稱電容率，介質(zhì)在外加電場是會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場，在相同原電場中某一介質(zhì)中的電容率與真空中的電容率的比值為相對(duì)介電常數(shù)，又稱相對(duì)電容率，如果有高介電常數(shù)的材料放在電場中，場的強(qiáng)度會(huì)在電介質(zhì)中有很大的下降。

介電常數(shù)是表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個(gè)重要數(shù)據(jù)，常用ε表示，真空的介電常數(shù)是1.0，導(dǎo)熱產(chǎn)品的介電常數(shù)是2~10，超導(dǎo)體的介電常數(shù)是無窮大。

測試儀器：WY2851Q表

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D150

測試方法簡介：通過兩只測微電容器組成，平板電容器用來夾持樣品，圓筒電容器配用Q表作為指示儀器，導(dǎo)熱硅膠片的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化，由圓筒電容器的刻度讀值變化而換算得到的，同時(shí)由平板電容器的刻度值變化而換算得到介電常數(shù)。

導(dǎo)熱硅膠片體積電阻率的測試方法

測試儀器：高阻計(jì)

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D257

將標(biāo)準(zhǔn)體積的導(dǎo)熱硅膠片在指定電壓下保持所需時(shí)間，并測量所產(chǎn)生的電流，通過產(chǎn)生的電流反算材料本身的電阻。體積電阻率越高，材料用做電絕緣部件的效能就越高。